X射线吸收精细结构谱仪（XAFS）运行公告
X射线吸收精细结构谱仪已安装完毕，即日起开始运行，欢迎广大师生咨询、送样。
一、仪器说明
X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS）谱是指物质对X射线的吸收系数随入射光能量变化的曲线，其可分为来源于光电子的多重散射效应的X射线吸收近边结构（X-ray absorption near edge structure，XANES）区域，以及来源于光电子的单次散射效应的拓展X射线吸收精细结构（Extended X-ray absorption fine structure，EXAFS）区域。通过分析XAFS谱图，可以得到材料的局域几何结构以及电子结构信息，包括中心吸收原子的价态、结构、电子状态以及配体种类、配位数、键长、无序度等。
二、生产厂商
安徽创谱仪器科技有限公司
三、仪器图片
四、技术参数
1.能量范围：4.5 – 20 keV；
2.能量分辨率：0.5 – 1.0 eV（7 – 9 keV，近边）；
3.X射线光源：2 kW闭管XRD型；
4.光通量：≥ 2.5×106光子/秒 @ 7-9 keV；
5.探测器：半导体硅漂移探测器；
6.测试模式：透射模式。
五、注意事项
1.样品须为均匀的粉末，送样请附送样单，填写样品信息；
2.样品须先经过ICP测试，确定样品中各元素的质量分数，用来计算得出制样所需样品量；
3.目前可测元素种类为Fe、Co、Cu、Mn（均为K边），后续将扩充其余元素；
4.已配备上述四种元素的Foil标样用于能量校正；
5.测试前对操作流程不熟悉的，应提前告知。
六、收费标准
1.即日起至2025年1月12日为试运行，在此期间不收费；
2.2025年1月13日起按照200元/元素/小时（校内）收取测试费。
七、设备地点
千佛山校区创新大厦二层209室
八、联系人
刘壮，13018299553
九、预约方法：
由于网上预约系统正在搭建中，临时使用QQ群进行预约，入群时请备注：姓名-导师-联系方式。
设备培训请关注后续通知。
